博士，北方工业大学副教授。主要从事集成电路测试、集成电路工艺等方面的教学和科研工作。

爱德万测试（中国）管理有限公司，亚洲技术专家中心专家工程师。

温晓青，工学博士，日本九州工业大学教授， IEEE Fellow。研究方向为集成电路测试，发表论文280余篇，出版《VLSI Test Principles and Architectures: De

叶红飞，硕士，北京大学集成电路学院测试实验室副主任。主要从事集成电路测试研究和测试项目开发，有近20年在V93000、UltraFLEX、J750等ATE平台集成电路测试开发经验。

詹文法，博士，教授，安徽省皖江学者特聘教授、安徽省战略新兴技术领军人才、安徽省学术技术带头人后备人选。安庆师范大学电子工程与智能制造学院副院长。主要研究方向：集成电路测试，主持国家自然科学基金2项，安

孙锴，中国科学院微电子研究所副研究员，硕士生导师，西安交通大学控制科学与工程专业博士。研究领域为电子元器件测试及失效分析和可靠性物理。主持多项国家级科研项目，出版专著一本，教材一本，发表论文十余篇，获

温佳欣，摩尔线程智能科技（北京）有限公司，资深测试工程师。在ATE岗位上具有十年以上工作经验，负责过SRAM、FPGA、TPU、AI、GPU等数十种芯片的软硬件开发及量产维护。在ATE硬件设计以及测试

尤嘉，硕士，成都坤恒顺维科技股份有限公司技术支持部经理。毕业于东南大学无线电工程系，毕业后在国际主流射频微波仪器和半导体测试公司长期担任技术支持工作，有丰富的射频微波、无线通信、航空航天测试经验。并运

李世杰，北京曾益慧创科技有限公司，集成电路测试技术负责人，高级工程师，12年集成电路测试开发经验。曾在航天771所主持多项横向纵向项目测试开发工作，重点专注于数字及混合电路的测试开发、测试分析及失效分

王金华，爱德万测试（中国）管理有限公司，存储器应用技术支持部高级工程师，具有6年ATE行业从业经验，在应用开发和ATE技术方面积累了丰富的经验。除此以外，还负责为客户和内部工程师提供专业的技术培训。培

丁兆达，硕士，上海季丰电子股份有限公司测试可靠性总监。从业20年，历任ASE/Amkor/Chipnuts/ Atheros 测试工程师。Qualcomm 资深测试工程师、资深产品工程师，上海季丰电子

曹流圣，摩尔线程智能科技（北京）有限公司，资深产品工程师，具有丰富的晶圆先进工艺，先进封装，测试数据分析与良率提升经验。曾负责过多颗5nm，7nm，12nm等先进工艺节点产品成功导入量产，具有wafe

黄宇，博士，华为半导体科学家，海思EDA首席架构师和EDA实验室主任。加入海思之前，为Mentor Graphics的Sr. Key Expert。研究兴趣包括VLSI SoC测试、ATPG、压缩、诊

罗宏伟，兼职博导/博士/研究员，工信部电子五所元器件与材料研究院高级副院长，先进电子材料、电子元器件质量和可靠性研究领域的资深专家，享受国务院特殊津贴，长期从事先进电子信息材料、半导体元器件及集成电路

李华伟，中科院计算所研究员，博士生导师，中国计算机学会（CCF）会士。担任CCF集成电路设计专委秘书长，中国计量测试学会集成电路测试专委副主任兼秘书长，openDACS开源EDA工委会主任；《IEEE

冯建华，北京大学集成电路学院研究员，博士生导师。多年来主要从事IC测试和可测试性设计、硬件安全、可靠性预测等研究，主持国家自然科学基金5项、国家预研项目3项。讲授“VLSI测试和可测试性设计”和“模拟